© 2018 ООО «СИТЭК».

Произвдитель AFMHD

Измеритель толщины пленок и поверхностного сопротивления пленок SURAGUS EddyCus® TF lab

Настольный прибор для бесконтактного измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок. предназначены для быстрой и точной бесконтактной характеризации пленок в научно-исследовательских лабораториях, исследовательских центрах. Программное обеспечение позволяет проводить измерения толщины тонких пленок, толщины стенок и измерения удельного поверхностного сопротивления пленок.

Особенности:

  • Метод измерения - бесконтактный, в режиме реального времени

  • Измерение в одной точке.

  • Диапазон измерения поверхностного сопротивления: от 0,001 до 3000 Ом / кв.

  • Размер подложек: до 200 х 200мм (EddyCus® TF lab 2020) или до 400 х 400 мм (EddyCus® TF lab 4040

  • Диапазон измерения толщины: 2 нм - 2 мм

  • Толщина подложек: 1/2/5/10/25 мм

Измеряемые параметры:

 

Поверхностное сопротивление R_sq [Ом/квадрат]

Толщина металлических слоев [мкм, нм]

Инфо-тип (Emissivity) (e)

 

Области применения:

Микроэлектроника

Архитектурное стекло (LowE)

Дисплеи, сенсорные экраны

OLED и LED применения

Смарт-стекла

Графеновые слои

Фотовольтаика

Полупроводниковые пластины

Слои метализации

Слои для борьбы с обледенением

Электроды батарей

Упаковочная пленка или фольга

Проводящая бумага и проводящий текстиль