Новое поколения измерительных 3D микроскопов для трехмерой визуализации микроскопических объектов
Атомно-силовая микроскопия для изучения рельефа и приповерхностных физико-химических свойств.образцов.
Прибор для измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок. Картирование измеряемых параметров по всей поверхности образца.
Сканирующая электронная микроскопия для изучения различных образцов со сверхвысоким пространственным разрешением.
Please reload