© 2018 ООО «СИТЭК».

Новое поколения измерительных 3D микроскопов для трехмерой визуализации микроскопических объектов

Атомно-силовая микроскопия для изучения рельефа и приповерхностных физико-химических свойств.образцов.

Прибор для измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок. Картирование измеряемых параметров по всей поверхности образца. 

Сканирующая электронная микроскопия для изучения различных образцов со сверхвысоким пространственным разрешением.

Please reload