© 2018 ООО «СИТЭК».

 

Электронные микроскопы

JEOL JSM-IT100
JEOL JSM-IT300
JEOL JIB-4501 Multibeam
JEOL JSM-7200F
JEOL JIB-4600F Multibeam
JEOL JSM-7500F
JEOL JSM-7800F
Показать больше

Растровые электронные микроскопы

JEOL JEM-ARM200F
JEOL JEM-1400Plus
JEOL JEM-2100Plus
Показать больше

Просвечивающие электронные микроскопы

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Компактные растровые электронные микроскопы серии JEOL JSM-IT100

 JSM-IT100  – серия компактных растровых электронных микроскопов от JEOL с возможностью работы в различных средах, обеспечивающий получение высококачественных изображений и микроанализ.

 

 Сенсорный экран управляющего компьютера – новый подход в организации дружественного и интуитивно понятного интерфейса.

 Данный микроскоп имеет широкие аналитические возможности: качественный и количественный элементный микроанализ с помощью полностью интегрированной безазотной системы ЭД микроанализа, получение изображений с высоким пространственным разрешением, возможность работы в низковакуумном режиме (низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящего слоя, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д.). 

Тип источника электронов

прямонакальный эмиттер,не требующий юстировки

Низковакуумный режим

в моделях JSM-IT100LV и JSM-IT100LA

Пространственное разрешение

4 нм при 20 кВ, 8 нм при 3 кВ и 15 нм при 1 кВ

Пространственное разрешение в низковакуумном режиме

5 нм (ускоряющее 20 кВ, рабочее расстояние 5 мм, сигнал отражённых электронов)

Энергия электронного луча

от 0,5 до 20 кВ (до 30 кВ - опция)

Увеличение

от 5 до 300 000 крат (в пересчёте на изображение форматом 10x15 см)

Ток луча

от 1 пА до 0,3 мкА

Детекторы

детектор Эверхарта-Торнли для ВЭ, детектор Эверхарта-Торнли для ОЭ, полупроводниковый детектор ОЭ в режимах «контраст по атомному номеру», «топографический контраст», «стереоизображение», специальный детектор вторичных электронов для низкого вакуума

Максимальный размер образца

150 мм в диаметре

Система вакуумной откачки

турбомолекулярная

Система шлюзования

опция

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Растровые электронные микроскопы серии JSM-IT300

 Микроскоп JSM-IT300LV это растровый электронный микроскоп с возможностью работы в низковакуумном режиме. Оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и возможностью управления посредством сенсорного экрана, как дополнением к высококачественной электронной оптике с усовершенствованной системой вакуумной откачки и системой захвата и построения изображения.

 

Основные характеристики:

  • Разрешающая способность 3 нм во вторичных электронах. При низких ускоряющих напряжениях разрешающая способность составляет 8 нм (при 3 кВ) и 15 нм (при 1 кВ), что является предельно высокими показателями для микроскопов такого класса.

  • Конденсорная зум-линза обеспечивает автоматическую качественную фокусировку в широких диапазонах токов электронного луча.

  • Высокопроизводительный турбомолекулярный насос в комплекте с двумя форвакуумными насосами обеспечивает чистую и быструю вакуумную откачку. 

  • Низковакуумный режим позволяет изучать непроводящие образцы без нанесения каких-либо токопроводящих напылений ещё более качественно за счёт схемы дифференциальной откачки объективной линзы новой разработки.

  • В микроскопе реализована функция беззарядного сканирования, с помощью которого можно уменьшить влияние накапливаемого электростатического заряда при работе с непроводящими образцами.

  • Понятное и простое управление с помощью сенсорного монитора с диагональю 23 дюйма.

  • Благодаря сопроводительному программному обеспечению оператор в любой момент может получить информацию или рекомендации относительно выполнения какой-либо из операторских функций: будь то оптимальное получение качественных изображений, управление микроскопом или его настройка. 

  • Используя такую опцию, как навигационная система по фотографии образца, и работая при малых увеличениях (вплоть до 5 крат), оператор не имеет проблем с ориентированием даже на крупном образце.

  • Возможность записи видеофайлов даёт возможность сохранить историю и последовательность изучения образца или записать динамические процессы, происходящие с образцом.

  • Камера образцов новой конструкции обеспечивает оптимальное ориентирование детекторов систем энергодисперсионного элементного анализа, волнодисперсионного элементного анализа, дифракции отражённых электронов. Таким образом, микроскоп обеспечивает одновременное наблюдение образца во вторичных электронах с высоким разрешением и получение результатов элементного и микроструктурного анализа при рабочем расстоянии в 10 мм. Обеспечена возможность одновременной работы двух детекторов систем(ы) энергодисперсионного элементного анализа установленных оппозитно с одинаковым рабочим расстоянием, что даёт высокую производительность при анализе элементного состава образца.

Консоль микроскопа имеет минимальные размеры для микроскопов этого класса, тем самым делая даже самые малые помещения пригодными для размещения микроскопа.

Тип источника электронов

прямонакальный вольфрамовый или гексаборидлантановый

Низковакуумный режим

от 10 до 650 Па

Пространственное разрешение

3 нм при 30 кВ, 15 нм при 1 кВ

Пространственное разрешение в низковакуумном режиме

4 нм

Энергия электронного луча

от 300 эВ до 30 кэВ

Увеличение

от 5 до 300 000 крат на отпечатке форматом 10 х 15 см

Ток луча

от 1 пА до 1 мкА

Аналитические приставки - опции

ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализ катодолюминесценции, тензостолики, температурные столики

Максимальный размер образца

200 мм в диаметре и 80 мм толщиной

Столик образцов

эвцентрицный, моторизованый по всем (пяти) координатам, с диапазонами перемещения X - 125 мм, Y - 100 мм, Z - 80 мм, наклон - от -10 до 90 градусов, поворот - 360 градусов без стопора

Система вакуумной откачки

турбомолекулярный насос, форвакуумные насосы

Система шлюзования

опция

 

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления

 IB-4501 Multibeam – новая простая в эксплуатации система РЭМ/ФИП (растровый электронный микроскоп/ионная пушка с фокусированным ионным пучком), объединяющая в себе ионную оптику и самую популярную в мире колонну РЭМ. Прибор JIB-4501 «Мультибим» обеспечивает высокую производительность в различных вариантах применения, от наблюдения образцов до их ионного микротравления.

 

Основные характеристики и отличительные особенности системы:

 

  • Большой ионный ток травления. Повышенная производительность при большой площади травления (максимальный ионный ток травления 30 нА).

  • Высокоразрешающая электронная (LaB6) и ионная оптика. Обеспечивает получение стабильного изображения для травления/мониторинга процесса травления через длительные интервалы времени.

  • Система фигурного ионного травления. Позволяет проводить фигурное напыление и травление в соответствие с данными бинарного изображения, записанными в виде BMP-файла. Поддерживает режим трехмерного нанотравления с непрерывным доступом к многочисленным данным, записанных в виде файлов изображений.

  • Стандартная шлюзовая система для быстрой и простой загрузки образцов в камеру образцов без нарушения вакуума. Обеспечивает быструю загрузку образцов через шлюз. Максимальный размер загружаемого через шлюз образца: пластина диаметром 150 мм.

  • Контроль травления в реальном времени. Получение изображения в РЭМ одновременно с процессом ионного травления. Эффективная подготовка образцов тонких фольг оптимальной толщины для просвечивающего электронного микроскопа.

  • Полный набор портов для установки всех видов приставок. Большой столик позволяет проводить травление образцов диаметров до 76 мм. Имеется полный набор портов для установки различный типов аналитических приставок, включая энергодисперсионный спектрометр, детектор системы дифракции отраженных электронов, спектрометр катодолюминесценции. Все порты расположены в оптимальных положениях для осуществления непрерывной работы со всеми видами приставок.

  • Выполнение серии последовательных тонких срезов и реконструкция трехмерного изображения. Наблюдение за последовательно выполняемыми тонкими срезами. Реконструкция трехмерных изображений на основе серии тонких срезов.

  • Вспомогательная телекамера для наблюдения за камерой образцов и уточнения перемещений образца. Эффективна для уточнения взаиморасположения образца по отношению к различным частям камеры образцов, включая систему инжекции газа.

  • Дружественный, простой в понимании компьютерный интерфейс пользователя. Современный, четко читаемый графический интерфейс пользователя. Визуальное интуитивное управление от настройки рабочих условий РЭМ/ФИТ до проведения процесса травления и наблюдения за конечным результатом обработки.

 

 Изображение и микроанализ в отсутствие зарядки образцов. Наличие стандартной низковакуумной системы для исследования непроводящих образцов.

  

Тип источника электронов

гексаборид-лантановый катод (LaB6)

Низковакуумный режим

есть

Пространственное разрешение

2,5 нм при 30 кВ ускоряющего напряжения

Энергия электронного луча

от 0,3 до 30 кэВ

Увеличение

от 5 до 300 000 крат

Ток луча

1 мкА максимум

Детекторы

детектор вторичных электронов, детектор отражённых электронов

Аналитические приставки - опции

система энергодисперсионного микроанализа, система волнодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов, спектральный анализ катодолюминесценции, охлаждающие (крио) и нагревающие столики образцов

Система вакуумной откачки

2 гетероионных насоса, турбомолекулярный насос, 2 форвакуумных насоса

Система шлюзования

есть

Источник ионов

жидкометаллический источник ионов галлия

Пространственное разрешение при сканировании ионным пучком

5 нм при 30 кВ ускоряющего напряжения

Ускоряющее напряжение ионной пушки

от 1 до 30 кВ

Увеличение при сканировании ионным пучком

30 крат (для широкого поля зрения), от 100 до 300 000 крат

Максимальный ток ионной пушки

30 нА при 30 кВ ускоряющего напряжения

Дополнительное оборудование

инфракрасная телекамера в камере обрацов, система инжекции газа для прецизионного электронно-стимулированного напыления под электронным пучком

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Растровый электронный микроскоп JSM-7200F

SM-7200F это многоцелевой растровый электронный микроскоп с эмиттером Шоттки, предназначенный для решения широкого спектра задач как в элементном и структурном микроанализе так и в получении качественных изображений с высоким разрешением.

 

Электронная оптическая система использует погружённую в конденсорную линзу термоэмиссионную электронную пушку, позволяющую получать остросфокусированный электронный зонд при высоком токе зонда, что обеспечивает эффективное выполнение элементного анализа путем EDS (энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии), WDS (волнодисперсионной рентгеновской спектрометрии) и EBSD (дифракции отражённых электронов). К тому же, поскольку высокий зондовый ток можно получить также при низком ускоряющем напряжении, JSM-7200F может выполнять поэлементное картирование по поверхности образца с высоким разрешением при использовании EDS и WDS.

Для получения изображений с высоким пространственным разрешением устройство JSM-7200F использует режим низковольтной растровой электронной микроскопии, который успешно подавляет эффект электростатического заряда в непроводящих образцах, таких как изоляционные материалы (керамика и пр.), а также полупроводниках. Таким образом, пользователь может беспрепятственно осуществлять наблюдение за данными образцами без напыления токопроводящих покрытий.

 

Система внутрилинзовых детекторов включена в базовую конфигурацию прибора. Система внутрилинзового детектирования обеспечивает выбор сигнала при получении изображений с высоким разрешением в области сверхнизких энергиях луча.

 

Базовая конфигурация микроскопа включает в себя систему турбомолекулярной откачки, что сводит к минимуму загрязнение образца во время наблюдения.

 

Операционная система способна показывать в режиме реального времени высокочеткие изображения с разрешением 1280х960 пикселей на экране графического пользовательского интерфейса (далее GUI) на базе Windows®.

 

Одновременно на экране GUI пользователь может наблюдать четыре «живых» изображения с четырёх детекторов. Более того, с помощью мышки, клавиатуры и устройств управления, расположенных на панели управления графического пользовательского интерфейса, можно с легкостью выполнять операции с использованием сканирующего электронного микроскопа, начиная с установки условий наблюдения, заканчивая непосредственным наблюдением за изображениями.

 

Столик микроскопа имеет компьютерное управление, и моторизован по пяти осям (X, Y, R, T и Z). Уникальный интерфейс (GUI), а также панель управления столика микроскопа дает возможность с легкостью менять положение образца так, как Вам необходимо. Для защиты окружающей среды, в микроскопе JSM-7200F предусмотрен энергосберегающий режим, который сокращает потребление электроэнергии, когда SEM не используется.

Тип источника электронов

эмиттер Шоттки

Низковакуумный режим

опция

Пространственное разрешение

1,2 нм при 30 кВ, 1,6 нм при 1 кВ, 3 нм при 15 кВ и токе зонда 5 нА

Энергия электронного луча

от 10 эВ до 30 кэВ

Увеличение

от 10 до 1 000 000 крат

Ток луча

от 1 пА до 300 нА

Детекторы

детектор вторичных электронов, детектор отражённых электронов, комплект из двух внутрилинзовых детекторов с энергетическим фильтром

Аналитические приставки - опции

ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализ катодолюминесценции, тензостолики, температурные столики

Столик образцов

эвцентричный, моторизованый по всем (пяти) координатам, с диапазонами перемещения X - 70 мм, Y - 50 мм, Z - 39 мм, наклон - от -5 до 70 градусов, поворот - 360 градусов без стопора

Система вакуумной откачки

турбомолекулярный насос, ионногетерный насос, форвакуумные насосы

Система шлюзования

включена в базовую конфигурацию

 
 

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4600F Multibeam с ионной пушкой для микротравления

Тип источника электронов

термополевой эмиттер (катод Шоттки)

Пространственное разрешение

1,2 нм при 30 кВ, 3 нм при 1 кВ

Энергия электронного луча

от 200 эВ до 30 кэВ

Увеличение

от 50 до 1 000 000 крат

Ток луча

до 200 нА

Аналитические приставки - опции

система энергодисперсионного микроанализа, система анализа дифракции отражённых электронов, система спектрального анализа катодолюминесценции, детектор прошедших электронов

Источник ионов

источник ионов галлия

Пространственное разрешение при сканировании ионным пучком

5 нм при 30 кВ

Ускоряющее напряжение ионной пушки

от 5 до 30 кВ

Увеличение при сканировании ионным пучком

от 30 до 300 000 крат

Максимальный ток ионной пушки

30 нА

Дополнительное оборудование

дополнительные газовые инжекторы

 

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F

 JSM-7500F – растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «Gentle Beam» (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ). В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE+BE с управляемой пропорцией долей отражённых и вторичных электронов. Микроскоп может быть укомплектован системой энергодисперсионного микроанализа производства фирмы JEOL. В этом случае модель имеет аббревиатуру JSM-7500FA.

Тип источника электронов

полевой эмиттер

Пространственное разрешение

1 нм

Энергия электронного луча

от 100 эВ до 30 кэВ

Увеличение

до 1 000 000

Ток луча

от 1 пА до 2 нА

Аналитические приставки - опции

система энергодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов

Максимальный размер образца

до 203 мм в диаметре (предлагается в соответствие с запросом)

Столик образцов

моторизован по всем 5-ти координатам в базовой конфигурации

Система вакуумной откачки

турбомолекулярный насос

Система шлюзования

обязательно включена (необходима консультация с поставщиком для правильного подбора)

 

Растровый электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F

Микроскоп JSM-7800F оснащен электронной пушкой на базе эмиттера Шоттки, супергибридной объективной линзой (конической объективной линзой, использующей скрещенные электростатические и электромагнитные поля) и новым пользовательским интерфейсом. Имея в распоряжении такие мощные функции, даже начинающий пользователь может легко получать изображения со сверхвысоким разрешением.

            Комбинация магнитных и электростатических полей обеспечивает превосходный эффект, значительно улучшая разрешение растрового электронного микроскопа особенно при низких ускоряющих напряжениях. Кроме того, стандартный нижний детектор обеспечивает детектирование отраженных электронов, испускаемых при малых углах. Работа в режиме детектирования этих электронов позволяет снизить эффект электростатического заряда на поверхности образца.

JSM-7800F имеет мощную электронно-оптическую систему, которая включает пушку Шоттки, погружённую в конденсор для получения яркого электронного луча и обеспечивающую острую фокусировку даже при больших токах. Кроме того, поскольку при режиме микроанализа образец не находится в области электромагнитных полей объективной линзы, JSM-7800F обеспечивает энергодисперсионный и волнодисперсионный элементный анализ, анализ катодолюминесценции, анализ дифракции отражённых электронов и прочие аналитические функции.

            Безмасляная высоковакуумная откачка турбомолекулярным насосом обеспечена в стандартной комплектации. Кроме того, JSM-7800F имеет новую функцию, которая позволяет одновременно, в режиме реального времени, наблюдение изображений с четырех детекторов. В результате, вы всегда можете легко найти соответствующий вашим потребностям сигнал изображения. Кроме того, применяя напряжение смещения на образце, вы можете наблюдать непроводящие образцы, в том числе изоляционные материалы (керамика и т.д.) и полупроводники.

            Стандартный 5-осевой моторизованный столик образцов не только предотвращает образец от контакта с корпусом и деталями детекторов для обеспечения безопасности, но и позволяет задать условия перемещения для каждого нового образца.

            Энергосберегающая система автоматически снижает потребление электроэнергии в случае, если РЭМ временно не используется.

Тип источника электронов

эмиттер Шоттки

Пространственное разрешение

1,0 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, обычный режим) 0,8 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, низковольтный режим) 1,5 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ, обычный режим) 1,2 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ

Энергия электронного луча

от 10 эВ до 30 кэВ

Увеличение

от 25 до 1 000 000 крат

Ток луча

200 нА максимум

Аналитические приставки - опции

ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализаторы катодолюминесценции

Максимальный размер образца

диаметр до 100 мм

Столик образцов

Ось X: 70 мм Ось Y: 50 мм Ось Z: от 2 до 41 мм (непрерывно) Наклон: от –5 до 70° Вращение: 360° непрерывно

Система вакуумной откачки

турбомолекулярная и ионная

Система шлюзования

есть

 

Просвечивающий электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEOL JEM-ARM200F

Модель JEM-ARM200F, включающая корректор сферической аберрации для электронной оптической системы в качестве стандартного оборудования, достигает разрешения в растровом просвечивающем режиме (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов. Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.

Повышенная электрическая стабильность

 

Для достижения атомного разрешения источник высокого напряжения и блоки питания линз электронно-оптической системы должны быть высокостабильными. В микроскопе JEM-ARM200F флуктуации высокого напряжения и тока объективной линзы снижены на 50% по сравнению с обычными моделями, что существенно повышает электрическую стабильность всего микроскопа в целом. 

 

Повышенная механическая стабильность

 

Для обеспечения анализа и получения изображений на атомном уровне с использованием корректоров сферических аберраций для электронной оптики и проекционной системы, вибрации и дисторсии системы должны контролироваться также на атомном уровне. Прочность механической конструкции модели ARM 200F по сравнению с обычными ПЭМ была повышена путем увеличения диаметра колонны для улучшения ее жесткости и путем оптимизации структуры консоли, улучшающей механическую стабильность всей системы.

 

Широкий спектр аналитических возможностей в просвечивающем растровом режиме (STEM)

 

В модель одновременно могут устанавливаться: два вида темнопольных детекторов с различными углами детектирования в STEM режиме (один в стандартной комплектации), светлопольный детектор (стандартная комплектация), детектор отраженных электронов (опционально). Новая сканирующая система сбора изображения одновременно получает до 4-ёх различных сигналов и позволяет наблюдать 4 изображения одновременно.

 

Контроль влияния внешней среды

 

Вибрации и искажения на атомном уровне зачастую вызваны изменениями температуры и магнитных полей в комнате с микроскопом. ARM 200F экранирован от температурных и магнитных флуктуаций в стандартной комплектации. Колонна изолирована кожухом от температурных колебаний вызванных конвекцией воздуха в помещении.

 

Корректор сферических аберраций для системы формирования ПЭМ изображения (опционально)

 

При использовании корректора сферических аберраций для системы формирования изображения в ПЭМ режиме разрешение может быть улучшено до 0,11 нм.

Тип эмиттера

термополевой катод Шоттки или высокостабильный "холодный" полевой эмиттер (на выбор пользователя)

Разрешение по точкам

0,19 нм (без TEM-корректора), 0,11 нм (с TEM-корректором)

Просвечивающий сканирующий режим

разрешение 0,08 нм при использовании темнопольного детектора

Ускоряющее напряжение

от 80 до 200 кВ

Диапазон увеличений

от 50 до 2 000 000 в TEM-режиме, от 100 до 150 000 000 в STEM-режиме

Возможные аналитические методы (опции)

энергодисперсионный микроанализ, спектроскопия характеристических потерь энергии электронов

Корректор сферических аберраций для STEM-режима

в базовой конфигурации

Корректор сферических аберраций для TEM-режима

опция

 

Просвечивающий электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400Plus с ускоряющим напряжением 120 кВ

Новейший просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400Plus с высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и великолепные функции по получению оцифрованного изображения и расширяемый до аналитической конфигурации, является удобным прибором для применений в исследованиях биологических образцов, образцов полимеров и для материаловедения.

 

Новое программное обеспечение JENIE™, включенное в состав JEM-1400Plus, предоставляет возможность обучения управлению прибором, что не только крайне важно для начинающих микроскопистов, но и дает возможность опытным пользователям наиболее эффективно использовать самые сложные рабочие функции прибора.

Рабочий графический интерфейс, написанный в среде Windows и использующий самые последние технологии Windows, позволяет осуществлять дистанционное управление и коммуникацию между группами исследователей через TCP/IP протокол и Web-браузер.

 

Микроскоп JEM-1400Plus оснащён высококонтрастным полюсным наконечником объективной линзы и операционной системой новой разработки, обес-печивающей комфортную работу как опытным пользователям так и новичкам. ПЭМ JEM-1400Plus имеет следующие основные достоинства:

 

•Высококонтрастные ПЭМ-изображения для биологических и медицинских исследований

ПЭМ JEM-1400Plus использует высококонтрастный полюсный наконечник объективной линзы, обеспечивающий получение высоко-контрастных изображений при низких и высоких увеличениях. Эта функция особенно важна при наблюдении малоконтрастных образ-цов, коими является подавляющее большинство изучаемых объектов в клинических исследованиях, в иммунологии, фармацевтике, пищевой и полимерной промышленности.

•Гониометрический стол с высокой точностью перемещения и компьютерным управлением

Высокоточный гониометр с боковой загрузкой управляется компьютером по всем осям перемещения. Осей перемещения пять: X, Y, Z наклон X и наклон Y. Столик обеспечивает высокую производительность и удобство управления в широких диапазонах увеличений. Эвцентричность столика также чрезвычайно полезна для точной и быстрой работы систем трёхмерной реконструкции (3D-томография).

•Получение цифровых изображений 

В случае, если микроскоп оснащён собственной ПЗС-камерой, эта ПЗС-камера конструктивно содержит оптимально разработанную оптическую линзу, обеспечивающую высокую чёткость изображения по всему полю зрения. За счёт высокой скорости регистрации можно наблюдать «живое» изображение на мониторе компьютера с высоким качеством. Кроме того, встроенная камера позволяет производить автоматическую фокусировку. Встроенная программа панорамного монтажа снабжена автоматической функцией быстрого позициони-рования и автоматической функцией быстрого получения изобра-жения, что позволяет легко получить изображения высокой четкости (виртуальная ПЗС-камера на 5000 × 5000 пикселей). Все эти функции повышают эффективность рутинной работы исследователей.

•Эффективная операционная среда с использованием передовых методов ("ПЭМ центр")

"ПЭМ центр", разработанный для эффективной работы JEM-1400Plus, полностью использует передовые функции Windows. ПЭМ-изображения с камеры отображается в экране графического интерфейса пользователя (ГИП). Экраны для рутинных операций расположены компактно на том же интерфейсе, что позволяет начи-нающим пользователям интуитивно обучаться управлению прибором.

•Система навигации

JEM-1400Plus включает в себя систему ПЭМ-навигации, что по-зволяет новичкам быстро ознакомиться с порядком работы на мик-роскопе во время просмотра легких для понимания видеороликов. Кроме того, с помощью этой системы, опытный оператор может с уверенностью выполнять такие задачи, как проверку соосности эле-ментов электронно-оптической колонны и, при необходимости, их юстировки.

•Блок просвечивающей растровой электронной микроскопии (ПРЭМ)

Микроскоп JEM-1400Plus может быть оснащён ПРЭМ-блоком для получения цифровых изображений в сканирующих режимах, ис-пользуя новейшие разработки в электронике для растровых режимов. Темнопольные и светлопольные изображения отображаются на том же экране графического интерфейса.

•Дополнительные опции

Система управления микроскопа JEM-1400Plus такая же, как у передовых 200 кВ микроскопов – общепризнанных лидеров в этой области: JEM-2100, JEM-2100F и JEM-2200FS. Микроскоп возможно оснастить ПРЭМ-блоком, системой энергодисперсионнного микро-анализа (ЭДС), системой трёхмерной томографии, крио-держателями образцов и держателями с множеством других механических и тем-пературных функций.

Тип эмиттера

К-тип (прямонакальная вольфрамовая нить) или LaB6 (гексаборид лантана) на выбор

Разрешение по точкам

0,38 нм

Разрешение по линиям

0,2 нм

Просвечивающий сканирующий режим

опция

Ускоряющее напряжение

от 40 до 120 кВ

Шаг ускоряющего напряжения

33 В

Диапазон увеличений

от 50х до 1 200 000х

Возможные аналитические методы (опции)

прямое изображение; дифракция; (просвечивающая сканирующая микроскопия; энергодисперсионный микроанализ; спектроскопия характеристических потерь; трёхмерная томография; нагрев и охлаждение образца)

Порты для ПЗС- и ТВ-камер

порт бокового ввода под проекционным блоком линз и нижний осевой порт снизу фотокамеры; возможна комплектация специальной камерой на заводе JEOL

 

Просвечивающий электронный микроскоп

Произвдитель AFMHD

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100Plus

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEM-2100Plus оснащен высокопроизводительной гибкой электронно-оптической системой, разработанной и модернизируемой компанией JEOL на протяжении многих лет, и самой современной системой управления.

 

Этот многоцелевой электронный микроскоп (ПЭМ) обеспечивает решение научно-исследовательских задач в широком спектре областей: от материаловедения до медицинских и биологических наук.

Основные особенности JEM-2100Plus заключаются в следующем:

  • Самое современное управляющее программное обеспечение (TEM Center)

JEM-2100Plus работает с программным обеспечением ТЕМ Center, разработанным для последних версий ПО Windows. Благодаря интеграции окон настроек микроскопа, рабочего окна и окна отображения изображения, все необходимые функции расположены максимально эффективно. Это делает интерфейс TEM Center простым в использовании даже для начинающих. Кроме того, путем включения внешних контрольных функций JEM-2100Plus позволяет программировать серии операций и обеспечить надёжную связь с периферийными аналитическими приставками.

  • Гониометрический столик образцов

Гониометр максимально защищён от температурного дрейфа и обеспечивает широкий диапазон углов наклона образца. Перемещение столика образцов по всем осям моторизовано и управляется компьютером, что обеспечивает воспроизводимость перемещения образца во всех областях увеличений. Кроме того, использование опциональных пьезоприводов обеспечивает перемещение образца с субнанометровой точностью.

  • Опорная рама

Точка крепления колонны на опорной раме максимально близка к центру масс. Это обстоятельство обеспечивает прекрасную устойчивость микроскопа к вибрациям в широком диапазоне частот, что расширяет возможности пользователя по выбору помещений для микроскопа.

  • Получение цифровых изображений

Цифровая ПЗС-камера (опция) оснащена оптикой линзового сопряжения, оптимизированной для микроскопа JEM-2100Plus. С помощью ПЗС-камеры могут быть получены цифровые изображения с высоким разрешением без использования фотоматериалов, требующих химических процессов обработки. Цифровая камера делает возможным использование функции автоматической фокусировки. Стандартная программа создания панорам обеспечивает автоматическое позиционирование кадра и скоростную съёмку. Эта программа позволяет получать панорамные изображения больших площадей размером до 5000×5000 пикселей.

  • Режим просвечивающей растровой электронной микроскопии (ПРЭМ)

Приставка ПРЭМ (опция) имеет в своём составе новейшие электронные блоки захвата цифровых изображений и сканирования. Стандартные светлопольные и темнопольные изображения отображаются на мониторе в соответствующем окне пользовательского интерфейса TEM Center.

Возможные конфигурации (пользователем выбирается одна конфигурация из перечисленных при заказе прибора)

Сверхвысокое разрешение (URP); Высокое разрешение (HRP); Большие углы наклона (HTP); Высокий контраст (HCP)

Тип эмиттера

LaB6 (гексаборид лантана)

Разрешение по точкам HRP

0,23 нм

Разрешение по точкам URP

0,19 нм

Разрешение по точкам HTP

0,25 нм

Разрешение по точкам CRP

0,27 нм

Разрешение по точкам HCP

0,31 нм

Разрешение по линиям

0,14 нм

Просвечивающий сканирующий режим

опция

Ускоряющее напряжение

80, 100, 120, 160, 200 кВ

Шаг ускоряющего напряжения

50 В

Диапазон увеличений

от 2 000х до 1 500 000х

Возможные аналитические методы (опции)

прямое изображение; дифракция в сходящемся пучке; дифракция от нанообласти; (просвечивающая сканирующая микроскопия; энергодисперсионный микроанализ; спектроскопия характеристических потерь; трёхмерная томография; деформация, нагрев и охлаждение образца)

Порты для ПЗС- и ТВ-камер

порт бокового ввода под проекционным блоком линз и нижний осевой порт снизу фотокамеры.