ПРОЕКТИРОВАНИЕ, РЕКОНСТРУКЦИЯ, ТЕХНИЧЕСКОЕ ПЕРЕВООРУЖЕНИЕ, СТРОИТЕЛЬСТВО И ОСНАЩЕНИЕ ЛАБОРАТОРИЙ И ПРОИЗВОДСТВ

Учебный сканирующий зондовый микроскоп СММ

Предназначен для проведения измерений методами атомно-силовой и туннельной микроскопии. Прибор прост в управлении и адаптирован для проведения учебных работ, оснащен мощным программным блоком обработки получаемых изображений в режиме реального времени. Позволяет получать качественные изображения с высоким разрешением в считанные минуты

​

Технические параметры:

• Принцип сканирования: сканирование зондом

• Поле санирование: 40х40х5 мкм

• Уровень шумов по XY: - 0,2 нм

• Уровень шумов по Z: -  0,002 нм

• Размер образца: 30х30х20 мм

• Масса образца: до 200г.

​​

На базе СЗМ реализованы все основные режимы измерений:

• На базе СЗМ реализованы все основные режимы измерений: 

• Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия

• Контактная и полуконтактная АСМ

• Магнитно-силовая и электро-силовая микроскопии

• Микроскопия латеральных и адгезионных сил

• Микроскопия зонда Кельвина

• Емкостная микроскопия

• Режим литографии и другие моды