© 2018 ООО «СИТЭК».

Учебный сканирующий зондовый микроскоп СММ

Предназначен для проведения измерений методами атомно-силовой и туннельной микроскопии. Прибор прост в управлении и адаптирован для проведения учебных работ, оснащен мощным программным блоком обработки получаемых изображений в режиме реального времени. Позволяет получать качественные изображения с высоким разрешением в считанные минуты

Технические параметры:

  • Принцип сканирования: сканирование зондом

  • Поле санирование: 40х40х5 мкм

  • Уровень шумов по XY: - 0,2 нм

  • Уровень шумов по Z: -  0,002 нм

  • Размер образца: 30х30х20 мм

  • Масса образца: до 200г.

На базе СЗМ реализованы все основные режимы измерений:

 

  • На базе СЗМ реализованы все основные режимы измерений: 

  • Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия

  • Контактная и полуконтактная АСМ

  • Магнитно-силовая и электро-силовая микроскопии

  • Микроскопия латеральных и адгезионных сил

  • Микроскопия зонда Кельвина

  • Емкостная микроскопия

  • Режим литографии и другие моды