Учебный сканирующий зондовый микроскоп СММ
Предназначен для проведения измерений методами атомно-силовой и туннельной микроскопии. Прибор прост в управлении и адаптирован для проведения учебных работ, оснащен мощным программным блоком обработки получаемых изображений в режиме реального времени. Позволяет получать качественные изображения с высоким разрешением в считанные минуты
Технические параметры:
-
Принцип сканирования: сканирование зондом
-
Поле санирование: 40х40х5 мкм
-
Уровень шумов по XY: - 0,2 нм
-
Уровень шумов по Z: - 0,002 нм
-
Размер образца: 30х30х20 мм
-
Масса образца: до 200г.
На базе СЗМ реализованы все основные режимы измерений:
-
На базе СЗМ реализованы все основные режимы измерений:
-
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия
-
Контактная и полуконтактная АСМ
-
Магнитно-силовая и электро-силовая микроскопии
-
Микроскопия латеральных и адгезионных сил
-
Микроскопия зонда Кельвина
-
Емкостная микроскопия
-
Режим литографии и другие моды